Jackson, W. D.; Cooper, R. S.; Phipps, C. R., Jr.; Spira, P. M.; Kniazzeh, A. G. F.; Carabateas, E. N.; Koskinen, M. F.; Gadzuk, J. W.; Rowe, A. W.; Kerrebrock, J. L. (Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), )